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大麦M1穗突变扇形体与嵌合体研究 Ⅲ.M2无突变表型穗系的鉴定
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摘要:
实验结果指出,在 NaN3(10-3M,种子予浸16小时),γ-射线(15KR)和快中子(1×1011Nf/cm2)三项处理中,六棱大麦矮秆齐M1穗中皆有一部分叶绿素突变不能在 M2代,而要迟至 M3代才初次分离显现。当每个 M2穗行出苗16—20株时,以 M1穗为基础计算得到的这部分突变的突变频率在三种处理中分别为36.1,16.8和6.4%。这部分在M2代隐而不现的叶绿素突变的突变频率与在M2代显现的叶绿素突变频率(分别为28.8,11.6和9.5%)之和,即为总的叶绿素突变频率,它们在三种处理中分别为64.9,29.4和15.9%。由此可见在 M2代隐而不现的叶绿素突变约占各处理中叶绿素突变总数的50%上下。这部分突变所以迟至M3代才分离显现,除了 M2代苗数这个限制因素以外,主要原因是它们的突变扇形体较小(绝大多数小于40%,其中不少小于10%)或嵌合体水平较低。M3代初次显现的叶绿素突变的突变谱与 M2代的无显著差异。
关键词:  扇形体  快中子  显现  突变频率  叶绿素突变  六棱大麦  突变谱  突变表型  嵌合体  
DOI:
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Abstract:
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